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2m平面镜Ritchey-Comm检测技术及应用研究

一、引言

随着光学技术的不断进步,平面镜在各种光学系统中的应用越来越广泛。其中,2m平面镜作为大尺寸光学元件,在望远镜、激光器、光谱仪等高精度光学系统中扮演着重要角色。Ritchey-Comm检测技术作为一种先进的平面镜检测技术,其准确性和效率性使其在光学领域得到广泛应用。本文将对2m平面镜的Ritchey-Comm检测技术及其应用进行研究。

二、Ritchey-Comm检测技术原理

Ritchey-Comm检测技术是一种基于干涉原理的平面镜检测技术。该技术利用光波的干涉现象,通过将待测平面镜与标准平面镜进行对比,从而检测出平面镜表面的形貌

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