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测试设备行业
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本土封测产业链崛起,测试设备迎国产化新机
➢测试设备:半导体后道封装关键环节。半导体测试主要分为封装前晶圆测试
(CP)和封装后成品测试(FT),CP测试旨在通过电学参数检测等测试晶圆上每
一颗颗粒的有效性,标记异常颗粒,减少后续封装和测试的成本,FT测试旨在测
试封装后芯片的功能实现及稳定性。从设备角度,分为探针台、分选机、测试机三类。
探针台的作用为在CP车市中传送晶圆、连接Pad
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