《集成电路测试技术项目教程（活页式）》课件 7-5.DAC0832芯片输入低电平电流测试.pptx

DAC0832

输入低电平电流测试

输入低电平电流测试测试方法：给被测器件外接电压对各个输入引脚进行给电压测电流测试原理图：

直流参数测试程序实现分析1.直流参数测试实现分析DAC0832的直流参数测试内容相对较少，一般只需要完成给每个输入引脚施加高电平和低电平，测试其引脚的电流即可。DAC0832直流参数的测试方法，分为输入高电平测试和输入低电平测试，主要是给芯片电源引脚提供电源电压，然后依次给输入引脚施加测试电压，测量其输入引脚的电流、并进行判断所测得的电流是否正常。

直流参数测试程序实现分析3.输入低电平测试过程输入低电平测试的过程，有如下几个步骤：（1）给FORCE2输出20V电压，即向Vcc引脚提供20V电压；（2）设置输入的高低电平VIH、VIL、VOH、VOL；（3）依次给输入引脚施加0.8V电压，并测量每个输入引脚的电流。若测得的电流在-200~-50μA之间为良品，否则为非良品。

输入低电平电流测试测试程序如下：

输入低电平电流测试

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