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集成电路设计中的可测试性设计考核试卷

考生姓名：答题日期：得分：判卷人：

本次考核旨在评估考生在集成电路设计中对可测试性设计的理解与应用能力，包括测试结构、测试策略、测试生成和测试验证等方面。

一、单项选择题（本题共30小题，每小题0.5分，共15分，在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的）

1.可测试性设计的主要目的是什么？

A.提高电路性能

B.降低功耗

C.提高可测试性

D.提高电路稳定性

2.下列哪项不是可测试性设计的基本原则？

A.设计分离性

B.设计模块化

C.设计冗余性

D.设计标准化

3.在集成电路设计中，什么是测试点（TP）？

A.用于连接电路的引脚

B.用于测试的特定节点

C.用于连接电源的引脚

D.用于连接地线的引脚

4.下列哪种测试方法不依赖于测试向量？

A.内部扫描测试

B.逻辑驱动测试

C.状态测试

D.功能测试

5.下列哪种测试结构可以实现自测试？

A.JTAG

B.BSDL

C.ATPG

D.ATPG+JTAG

6.在可测试性设计中，什么是ATPG？

A.自动测试程序生成

B.自动测试设备

C.自动测试平台

D.自动测试系统

7.下列哪种故障模型不易于检测？

A.单点故障

B.多点故障

C.参数故障

D.时序故障

8.下列哪种测试方法可以检测时序故障？

A.功能测试

B.时序分析

C.动态测试

D.静态测试

9.在集成电路设计中，什么是测试向量？

A.用于测试的信号序列

B.用于测试的电路结构

C.用于测试的测试程序

D.用于测试的测试设备

10.下列哪种测试方法适用于复杂的电路结构？

A.内部扫描测试

B.外部扫描测试

C.ATPG测试

D.JTAG测试

11.在可测试性设计中，什么是测试生成？

A.根据测试需求生成测试向量

B.设计测试电路

C.编写测试程序

D.设计测试平台

12.下列哪种故障模型不易于定位？

A.单点故障

B.多点故障

C.参数故障

D.时序故障

13.在集成电路设计中，什么是故障模拟？

A.模拟故障对电路的影响

B.检测电路的故障

C.分析电路的故障

D.修复电路的故障

14.下列哪种测试方法可以检测电路的时序性能？

A.功能测试

B.时序分析

C.动态测试

D.静态测试

15.在可测试性设计中，什么是测试验证？

A.验证测试结果是否正确

B.验证电路是否满足设计要求

C.验证测试程序的执行

D.验证测试设备的性能

16.下列哪种测试方法适用于电路的初步测试？

A.内部扫描测试

B.外部扫描测试

C.ATPG测试

D.JTAG测试

17.在集成电路设计中，什么是测试覆盖率？

A.检测到故障的比例

B.检测到故障的数量

C.检测到故障的类型

D.检测到故障的时间

18.下列哪种测试方法可以检测电路的信号完整性？

A.功能测试

B.时序分析

C.动态测试

D.静态测试

19.在可测试性设计中，什么是测试策略？

A.测试的总体计划

B.测试的具体方法

C.测试的执行过程

D.测试的结果分析

20.下列哪种测试方法适用于电路的全面测试？

A.内部扫描测试

B.外部扫描测试

C.ATPG测试

D.JTAG测试

21.在集成电路设计中，什么是测试结构？

A.测试电路的组成

B.测试信号的处理

C.测试数据的存储

D.测试结果的输出

22.下列哪种故障模型不易于修复？

A.单点故障

B.多点故障

C.参数故障

D.时序故障

23.在可测试性设计中，什么是故障注入？

A.故意在电路中注入

B.故意在电路中模拟

C.故意在电路中检测

D.故意在电路中修复

24.下列哪种测试方法可以检测电路的电源完整性？

A.功能测试

B.时序分析

C.动态测试

D.静态测试

25.在集成电路设计中，什么是测试平台？

A.测试硬件的集合

B.测试软件的集合

C.测试程序的集合

D.测试结果的集合

26.下列哪种测试方法适用于电路的快速测试？

A.内部扫描测试

B.外部扫描测试

C.ATPG测试

D.JTAG测试

27.在可测试性设计中，什么是测试效率？

A.测试结果的质量

B.测试过程的速度

C.测试资源的消耗

D.测试人员的技能

28.下列哪种测试方法适用于电路的长期测试？

A.内部扫描测试

B.外部扫描测试

C.ATPG测试

D.JTAG测试

29.在集成电路设计中，什么是测试环境？

A.测试硬件的集合

B.测试软件的集合

C.测试数据的集合

D.测试结果