荧光仪器分析基础知识.pptVIP

X射线及X射线荧光原子的壳层结构特征X射线在X射线管中，当撞击靶的电子具有足够能量时，这个电子可将靶原子中最靠近原子核的处于最低能量状态的K层电子逐出，在K电子层中出现空穴，使原子处于激发状态，外侧L层电子则进入内层空穴中去，多余的能量以X射线的形式释放出来，原子再次恢复到正常的能量状态。产生的是Ka线。对应其他的跃迁则产生Kb、La、Lb等等荧光X射线入射X射线激发原子的内层电子，使电子层出现空洞，原子成为不稳定状态（激发状态），外层电子进入空洞而使原子成为稳定状态，多余的能量释放出来这个能量就是荧光X射线由于电子轨道分为K，L，M以及?，?，?，因此也分别称为K?线、L?线N层M层L层K层K?K?KγL?L?X射线的产生。从阳极发出的高速电子撞击对阴极而产生X射线以X射线形式辐射出的能量极小，大部分能量转变成热能阴极的热量用水或风进行冷却X射线管的结构初级X射线的产生高速电子撞击阳极(Rh、Cu、Cr等重金属)：热能(99%)+X射线(1%)高速电子撞击使阳极元素的内层电子激发；产生X射线辐射；连续光谱连续光谱又称为“白色”X射线，包含了从短波限λm开始的全部波长，其强度随波长变化连续地改变。从短波限开始随着波长的增加强度迅速达到一个极大值，之后逐渐减弱，趋向于零。连续光谱的短波限λm只决定于X射线管的工作高压。不同靶的连续谱图特征光谱高级次谱线(n=2)和一级次谱线(n=1)在相同的角度被检测布拉格公式：分光晶体的工作原理：当X射线入射到物质中时，其中一部分会被物质原子散射到各个方向。当被照射的物质为晶体时，且原子层的间距与照射X射线波长有相同数量级，在某种条件下，散射的X射线会得到加强，显示衍射现象。当晶面距离为d，入射和反射X射线波长为λ时，相临两个晶面反射出的两个波，其光程差为2dsinθ，当该光程差为X射线入射波长的整数倍时，反射出的x射线相位一致，强度增强，为其他值时，强度互相抵消而减弱。满足2dsinθ=nλ时，衍射线在出射角θ方向产生衍射，从而达到分光的目的。大量原子散射波的叠加、干涉而产生最大程度加强的光束；X射线的衍射线：1Bragg衍射方程：DB=BF=dsin?n?=2dsin?光程差为?的整数倍时相互加强；只有当入射X射线的波长?≤2倍晶面间距时，才能产生衍射相干散射线的干涉现象；?相等，相位差固定，方向同，n?中n不同，产生干涉2X射线荧光光谱仪

X-rayfluorescencespectrometer010402050708添加标题波长色散型：晶体分光添加标题四部分：X光源；分光晶体；添加标题能量色散型：高分辨半导体探测器分光添加标题检测器；记录显示；添加标题测量第一级光谱n=1；添加标题检测器角度2?；030609添加标题波长色散型X射线荧光光谱仪添加标题按Bragg方程进行色散；添加标题分光晶体与检测器同步转动进行扫描。全固态检测器可以在30mm直径内的任意位置进行分析。仪器结构和微区分析系统专利]250um成图分析，世界首创实用的详细显示岩石样品Ba250μm成图Ba1mm成图滤光片1初级滤光片次级滤光片2初级滤光器(光源滤光片)作用降低背景改善荧光01检测器02X射线源03初级滤光片04样品05次级滤光片（检测器滤光片）01.滤去无用的线02样品03检测器04X射线源05次级滤光片滤光片的原理与使用Cu的X射线光谱在通过Ni滤片之前(a)和通过滤片之后(b)的比较（虚线为Ni的质量吸收系数曲线）对标样的依赖性工作曲线法标样绘制曲线标样的要求标样与试样的关系使用中的一致性C3C2C1含量工作曲线强度R1单击此处添加正文。0102R3单击此处添加正文。R2单击此处添加正文。0304什么是FP法FP法也叫基本参数法纯理论状态下，物质的量与X射线的强度之间具有一定的函数关系。现实中由于散射、吸收－增强等因素以及晶体衍射效率的变化等等因素造成实测强度与理论强度的不一致，通过校准实测强度与理论强度之间的差异而建立起来的一种以理论参数为主的分析方法。其需要较少的标准样品或仅需要一些纯物质即可以进行半定量－定量分析的计算。基体效应基体