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集成电路测试方法研究.docx

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    声明：本讲义内容用于内部交流和学习，请注意保护作者的版权

    集成电路测试方法研究

    华中科技大学IC设计中心陈新武

    I

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    目录

    摘要 I

    Abstract II

    1序言

    1.1背景及其意义 (1)

    1.2国内外研究现状 (3)

    1.3本文的主要内容 (5)

    2集成电路可测试性设计的基本概念

    2.1DFT的基本概念 (6)

    2.2DFT的常用方法 (6)

    2.3系统芯片与IP核 (10)

    2.4自动测试设备（ATE）

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