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低能正电子碰撞纯厚靶：特征X射线产额的成分解析与研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科学与技术的众多领域中，低能正电子碰撞纯厚靶的研究占据着重要地位，其在材料分析、医学成像等方面展现出独特的应用价值，成为推动相关领域发展的关键因素之一。

正电子，作为电子的反粒子，自1932年被发现以来，引发了科学界的广泛关注。当低能正电子与物质相互作用时，会产生一系列复杂且独特的物理过程，其中特征X射线的产生是重要的研究对象之一。特征X射线携带了丰富的物质信息，其产额成分与靶材的原子结构、电子状态以及正电子的入射能量等因素密切相关。

在材料分析领域，深入研究低能正电子碰撞纯厚靶产生的特