T CASAS 029—2023 Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法.pdfVIP

ICS31.080

CCSL40/49

团体标准

T/CASAS029—2023

Sub-6GHzGaN射频器件微波特性测试方法

TestmethodformicrowavecharacteristicsofSub-6GHzGaN

radio-frequencydevices

版本：V01.00

2023-06-30发布2023-07-01实施

第三代半导体产业技术创新战略联盟发布

目次

前言III

引言IV

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4缩略语和符号2

5要求2

通则2

测试条件和环境要求2

测试仪器3

测试要求3

6测试方法4

夹断电压测试4

6.1.1测试目的4

6.1.2测试框图4

6.1.3测试原理4

6.1.4测试程序4

6.1.5规定条件5

栅-源泄漏电流测试5

6.2.1测试目的5

6.2.2测试框图5

6.2.3测试原理5

6.2.4测试程序5

6.2.5规定条件5

栅-漏泄漏电流测试6

6.3.1测试目的6

6.3.2测试框图6

6.3.3测试原理6

6.3.4测试程序6

6.3.5规定条件6

源-漏泄漏电流测试6

6.4.1测试目的6

6.4.2测试框图6

6.4.3测试原理6

6.4.4测试程序6

6.4.5规定条件7

栅-源二极管正向导通电压测试（适用时）7

6.5.1测试目的7

6.5.2测试框图7

6.5.3测试原理7

6.5.4测试程序7

6.5.5规定条件7

额定增益测试7

6.6.1测试目的8

6.6.2测试框图8

6.6.3测试原理8

6.6.4测试程序8

6.6.5规定条件8

饱和功率测试9

6.7.1测试目的9

6.7.2测试框图9

6.7.3测试原理9

6.7.4测试程序9

6.7.5规定条件9

额定效率测试9

6.8.1测试目的9

6.8.2测试框图9

6.8.3测试原理10

6.8.4测试程序10

6.8.5规定条件10

附录A（规范性附录）测试结果记录表格示例11

Sub-6GHzGaN射频器件微波特性测试方法

1范围

本文件描述了Sub-6GHzGaN射频器件微波特性的详细测试方法，用户根据需求与实际情况参考使

用。

本文件适用于共源组成方式的GaN射频器件的测试分析及质量评价。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引