网站大量收购独家精品文档,联系QQ:2885784924

烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗影响的实验研究论文.docx

烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗影响的实验研究论文.docx

  1. 1、本文档共8页,其中可免费阅读3页,需付费51金币后方可阅读剩余内容。
  2. 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
  3. 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  4. 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗影响的实验研究论文

摘要:本文通过实验研究,探讨了烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响,分析了不同烧结温度、保温时间及冷却速率等因素对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响规律。研究结果为优化LLZO固态电解质片的烧结工艺提供了理论依据。

关键词:烧结工艺;LLZO固态电解质;界面阻抗;实验研究

一、问题的提出

(一)烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响因素

1.烧结温度对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响

烧结温度是影响LLZO固态电解质片界面阻抗的关键因素之一。随着烧结温度的升高,LLZO固态电解质片的晶粒尺寸逐渐增大,晶界面积减小,从而

文档评论(0)

如果我是DJ + 关注
实名认证
内容提供者

一线教师,参与编写各种教辅资料

版权声明书
用户编号:8031036121000025

1亿VIP精品文档

相关文档