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烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗影响的实验研究论文
摘要:本文通过实验研究,探讨了烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响,分析了不同烧结温度、保温时间及冷却速率等因素对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响规律。研究结果为优化LLZO固态电解质片的烧结工艺提供了理论依据。
关键词:烧结工艺;LLZO固态电解质;界面阻抗;实验研究
一、问题的提出
(一)烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响因素
1.烧结温度对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响
烧结温度是影响LLZO固态电解质片界面阻抗的关键因素之一。随着烧结温度的升高,LLZO固态电解质片的晶粒尺寸逐渐增大,晶界面积减小,从而
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