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基于深度学习的集成电路测试论文

摘要：

随着集成电路技术的飞速发展，其复杂性和集成度不断提高，传统的集成电路测试方法已无法满足日益增长的需求。深度学习作为一种新兴的人工智能技术，在图像识别、语音识别等领域取得了显著成果。本文旨在探讨基于深度学习的集成电路测试方法，分析其优势和应用前景，为集成电路测试领域提供新的思路。

关键词：深度学习；集成电路测试；人工智能；图像识别；语音识别

一、引言

（一）深度学习在集成电路测试中的应用背景

1.集成电路复杂性的提高

1.1集成电路规模不断扩大，功能日益复杂。

1.2集成电路设计周期缩短，测试需求增加。

1.3传统测试方法难以应对复杂电路的测试需求

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