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X射线毛细管光学器件:残余应力测量的创新之光.docx

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X射线毛细管光学器件:残余应力测量的创新之光

一、引言

1.1研究背景与意义

残余应力是材料及其制品在加工制造过程中,由于不均匀的塑性变形、温度变化、相变等原因而产生的,在没有外部载荷作用时,以平衡状态存在于构件内部的应力。根据应力平衡范围的尺度,残余应力通常被分为三类:第I类残余应力又称宏观残余应力,由工件不同部分的不均匀变形引起,平衡范围包括整个工件,尺度通常在毫米级别以上;第II类残余应力又称微观残余应力,由晶粒或亚晶粒之间的不均匀变形引起,平衡范围通常在微米级别,与晶粒尺寸大致相当;第III类残余应力由工件内部的点阵缺陷,如空位、间隙原子、位错等引起,平衡范围通常在几十至

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