投影栅三维形貌测量中相位去包裹算法的研究与优化.docx

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2025-04-10 发布于上海
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投影栅三维形貌测量中相位去包裹算法的研究与优化.docx

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投影栅三维形貌测量中相位去包裹算法的研究与优化

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今科技飞速发展的时代，三维形貌测量技术在众多领域都扮演着举足轻重的角色，投影栅三维形貌测量技术作为其中的重要一员，凭借其独特的优势，得到了广泛的关注和应用。该技术通过将光栅投影到被测物体表面，利用物体高度对光栅条纹的调制作用，获取物体的三维形貌信息。其原理基于光学三角测量法，通过投影仪投射光栅条纹，相机从不同角度拍摄变形的条纹图像，再经过一系列图像处理和计算，实现对物体三维形状的重建。这种非接触式测量方法，克服了传统接触式测量方法的诸多弊端，如避免了对被测物体表面的损伤，能够适应各种复杂形状和材质的物体测量，