《表面安装多层陶瓷电容器（MLCC）电性能老化测试 第1部分：直流老化（DC-Aging）测试》.pdfVIP

ICS31.060.10

CCSL11

团体标准

T/CECAXXXX—2025

表面安装多层陶瓷电容器（MLCC）电性能

老化测试第1部分：直流老化（DC-Aging）

测试

Electricalperformanceagingtestforfixedsurfacemountmulti-layerceramic

capacitors(MLCC)Part1:DC-Agingtest

（征求意见稿）

在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

2025-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

中国电子元件行业协会发布

T/CECAXXXX—2025

目次

前言II

引言III

1范围4

2规范性引用文件4

3术语和定义4

4测试原理4

5一般要求4

5.1测量和试验的标准大气条件4

5.2仲裁测量和试验用标准大气条件5

5.3设备和设备允许偏差5

5.4仪器和仪表5

6样品5

6.1通则5

6.2样品预处理5

7试验程序6

7.1试验准备6

7.2试验程序6

8测试报告8

8.1基本信息8

8.2测试结果8

附录A（资料性）DC-Aging测试报告格式9

参考文献10

I

T/CECAXXXX—2025

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

本文件是T/CECAXXX《表面安装多层陶瓷电容器（MLCC）电性能老化测试》的第1部分。T/CECA

XXX已经发布了以下部分：

——第1部分：直流老化（DC-Aging）测试；

——第2部分：长周期高温绝缘电阻（HotIR）测试；

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国电子元件行业协会电容器分会提出。

本文件由中国电子元件行业协会电容器分会归口。

本文件起草单位：广东风华高新科技股份有限公司、潮州三环(集团)股份有限公司、广东微容电子

科技有限公司、大连达利凯普科技股份公司、福建火炬电子科技股份有限公司、深圳市宇阳科技发展有

限公司、武汉佰力博科技有限公司、成都宏科电子科技有限公司、北京元六鸿远电子科技股份有限公司、

杭州灵通电子有限公司、华为技术有限公司、广东高端元器件创新科技有限公司

本文件主要起草人：

II

T/CECAXXXX—2025

引言

片式多层陶瓷电容器（以下简称MLCC）作为电子设备中的关键组件，市场对于高容量、高可靠性

MLCC的需求量逐渐提升，其性能和质量直接影响到整个电子系统的稳定性和效率，尤其是有高可靠要

求的产