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试验五AD、DA转换实验.pdfVIP

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试验五.A/D、D/A转换实验

一、实验目的

1.学习理解模/数信号转换和数/模转换的基本原理。

2.掌握模/数转换芯片ADC0804和数/模转换芯片DAC0832的使用方法。

二、实验设备

TD-PITE实验装置(带面包板)一套,实验用转换芯片两片,±12V稳压

电源一台、运放两片、温度传感器、电位器(5.1KΩ)一个、电阻若干,面包板

用导线若干,排线若干,万用表一个。

三、实验内容

(1)设计A/D转换电路,采集可调电阻的输出电压。连+5V电源,调

节后的输出电压作为ADC0804的模拟输入量,然后进行A/D转换,转换结

果由发光二极管上显示。请填写实验数据表格:

可调电阻的输

出电压(V)

计算数字量

实际数字量

(2)将LM35精密摄氏度温度传感器连+5V电源,输出电压直接作为

ADC0804的模拟输入量,然后进行A/D转换,转换结果经过计算得到摄氏度

值放在内存变量上。

(多数温度传感器是针对绝对温度的,且线形较差。LM35的输出电压与摄氏温度值成

正比例关系,每10mV为1摄氏度。)

(3)设计D/A转换,要求产生锯齿波、三角波、脉冲波,并用示波器观

察电压波形。

四、实验原理

1.模数转换器ADC0804简介

ADC0804是用CMOS集成工艺制成的逐次比较型模数转换芯片。分辨率为8位,转

换时间为100μs,输入参考电压范围为0~5V。芯片内有输出数据锁存器,与计算机连接

时,转换电路的输出可以直接连接在CPU数据总线上。

图5.1ADC0804引脚图

启动信号:当CS#有效时,WR#可作为A/D转换的启动信号。WR#高电平变为

低电平时,转换器被清除;当WR#回到高时,转换正式启动。

转换结束:INTR#跳转为低电平表示本次转换已经完成,可作为微处理器的中断或查

询信号。RD#用来读A/D转换的结果。有效时输出数据锁存器三态门DB0~DB7各端

上出现8位并行二进制数码。

转换时钟:见下图,震荡频率为fCLK≈1/1.1RC。其典型应用参数为:R=10KΩ,

C=150pF,fCLK≈640KHz,8位逐次比较需8×8=64个时钟周期,转换速度为100μ

s。若采用外部时钟,则外部fCLK可从CLKIN端送入,此时不接R、C。允许的时钟频

率范围为100KH~1460KH。

ZZ

图5.2转换时钟电路图

参考电压:Vref/2引脚可以悬空,这时Vref为电源电压Vcc的值;Vref/2也可以

接外部标准电压,这时Vref为Vref/2的两倍。

输入电压信号:根据输入信号特点,Vin(+)和Vin(-)可以按差分方式接入或单端

方式接入。如果信号一端没有接地,信号悬浮,可采用差分方式。如果一端接地,可采用单

端方式接Vin(+)。

工作时序图:只要提供负脉冲的片选和写信号作为启动信号,该芯片就能正常工作了。

图5.3工作时序图

2.数模转换器DAC0832简介

DAC0832是8位芯片,采用CMOS工艺和R-2RT形电阻解码网络,内有两级寄

存器,使DAC0832具备双缓冲(可实现多路D/A异步输入、同步转换)、单缓冲和直

通三种输入方式。转换结果为一对差动电流Iout1和Iout2输出。

图5.4DAC0832的典型应用

图5.5DAC0832的引脚和主要性能参数

8

*分辨率:8位DAC的分辨率为1/(2-1)=1/255=0.39%;

*转换精度:如果不考虑转换误差,转换精度就是分辨率大小。DAC转换误差包括零点误差、漂移误差、

增益误差、噪声和线性误差、微分线性误差等综合误差。绝

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