基于扫描结构的LFSR重播种：低功耗测试压缩技术的深度剖析与实践.docx

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2025-04-16 发布于上海
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基于扫描结构的LFSR重播种：低功耗测试压缩技术的深度剖析与实践

一、引言

1.1研究背景与意义

随着半导体工艺持续向超深亚微米、纳米尺寸迈进，芯片的集成度和复杂性呈指数级增长。在这一发展进程中，集成电路测试面临着前所未有的挑战，其中测试数据量庞大以及测试功耗过高成为了两个最为突出的问题。

从测试数据量角度来看，随着芯片规模的不断扩大，其内部包含的晶体管数量急剧增加，为了确保芯片功能的正确性，需要对大量的逻辑门和电路连接进行全面测试，这就导致测试向量的数量呈爆炸式增长。例如，一些超大规模集成电路的测试向量集可能包含数十亿甚至数万亿个向量，如此庞大的测试数据量不仅对测试设备的存储能力提出了极高