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集成电路布图设计权保护微电子领域的创新成果考核试卷.docx

集成电路布图设计权保护微电子领域的创新成果考核试卷.docx

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    集成电路布图设计权保护微电子领域的创新成果考核试卷

    考生姓名：答题日期：得分：判卷人：

    本次考核旨在评估考生对集成电路布图设计权保护以及微电子领域创新成果的掌握程度，包括相关法律法规、设计原理、技术标准及实际案例分析等方面。

    一、单项选择题（本题共30小题，每小题0.5分，共15分，在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的）

    1.集成电路布图设计权保护的目的是什么？

    A.保护集成电路的制造技术

    B.保护集成电路的商业模式

    C.保护集成电路的创意和独创性

    D.保护集成电路的市场份额

    2.以下哪项不是集成电路布图设计权保护的客

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