基于扫描隧道显微镜的二维材料氢化与二维拓扑绝缘体研究.docx

基于扫描隧道显微镜的二维材料氢化与二维拓扑绝缘体研究

一、引言

1.1研究背景与意义

二维材料，作为一类原子级厚度的材料，因其独特的物理性质和潜在的应用价值，在过去几十年中成为了材料科学和凝聚态物理领域的研究热点。自2004年石墨烯被成功制备以来，二维材料的研究取得了迅猛的发展，众多具有优异性能的二维材料被陆续发现和研究，如过渡金属硫族化合物（TMDCs）、黑磷、硼烯等。这些二维材料展现出了许多在传统三维材料中难以实现的特性，如高载流子迁移率、可调带隙、强自旋轨道耦合等，为新一代电子学、能源存储与转换、传感器等领域的发展提供了新的机遇。

氢化作为一种有效的手段，能够显著改变二维材料的物理